Produkty
Ci62
Ci62 dostarcza absolutne i względne wyniki pomiarów następujących funkcji kolorymetrycznych. Te wartości mogą być interpretowane w oparciu o dziewięć standardowych systemów kolorymetrycznych oraz kątów obserwacji 2° lub 10°: CIE XYZ, CIE Yxy, CIE LAB, Hunter LAB, CIE LCH, CMC oraz CIE94. Stopień bieli i zażółcenia podawany jest według normy ASTM E313-98. Indeks metameryzmu oraz DIN 6172 dodatkowo AATCC skala szarości.
Tryb projektu
Różnokolorowe standardy mogą zostać przypisane określonemu projektowi, co pozwoli w przyszłości na łatwe zarządzanie nimi i identyfikacje.
Tryb zgodny/niezgodny
Ci62 przechowuje w pamięci 4000 standardy z przypisaną im tolerancją dla szybkiego porównania z wynikiem zgodny/niezgodny. Czerwona/zielona kontrolka LED i wyświetlacz graficzny LCD wizualnie potwierdzają otrzymany wynik. O wyniku negatywnym informuje nas dodatkowo sygnał dźwiękowy.
Szybkie porównanie
Operator może zmierzyć i porównać ze sobą dwa kolory. Pozwala to otrzymać odczyt jakości koloru w dowolnym czasie, bez konieczności ustalania tolerancji czy zapisu danych.
Sfera pomiarowa
Sfera rozpraszająca w Ci62 jest wykonana z Spectralonu®, jest to trwały, wysoce odbijający materiał, zaprojektowany do stosowania w ciężkich warunkach produkcji. Materiał rozpraszający zapobiega przedwczesnemu zniszczeniu ścian sfery poprzez zapobieganie łuszczenia się, czy odpryskiwania materiału ze ściany.
Współczynnik krycia, siła krycia koloru i sortowanie odcienia
Ci62 potrafi zmierzyć współczynnik krycia oraz trzy opcje siły krycia koloru jak: chromatyczność, pozorny pomiar siły krycia oraz współrzędne trójchromatyczne. Ci62 wykonuje także sortowanie odcienia 555. Są to ważne parametry, warte uwagi w kontroli jakości koloru produktów, w przemyśle tworzyw sztucznych, farb czy materiałów tekstylnych.
Zgodność międzyurządzeniowa
Ci62 wykazuje wysoką zgodność międzyurządzeniową w wielourządzeniowym programie kontroli jakości koloru.
Tekstura i wpływ połysku
Aby wyznaczyć wpływ składnika połysku, Ci62 pozwala na jednoczesny pomiar z uwzględnieniem połysku (z naciskiem na pigmentacje) oraz z wykluczeniem połysku (z naciskiem na wygląd).
Ergonomia przyjazna użytkownikowi
Dodatkowo oprócz oprogramowania pomagającemu operatorowi w pomiarach samo urządzenie jest przyjazne użytkownikowi. Małe, lekkie z paskiem na nadgarstek oraz wygodnymi bocznymi uchwytami. Wyświetlane informacje są duże i czytelne.
Pliki do pobrania
Dane techniczne
- » Geometria pomiarowa
- d8° technologia DRS SPIN/SPEX
- » Źródło światła
- Lampa wolframowa napełniona gazem
- » Typy oświetlaczy
- C, D50, D65, D75, A, F2, F7, F11 i F12
- » Obserwator
- 2° i 10°
- » Detektor
- Fotodioda krzemowa z podwyższoną czułością w zakresie światła niebieskiego
- » Zakres spektralny
- 400 - 700nm
- » Interwał spektralny
- 10nm - pomiar, 10nm - wyjście
- » Pamięć
- 1024 wzorce z tolerancjami, 2000 próbek
- » Zgodność międzyurządzeniowa
- CIE L*a*b* - średnio 0,20ΔE*ab bazując na śred. z 12 płytek BCRA serii II (SPIN); max. 0,40ΔE*ab na jakiejkolwiek płytce (SPIN). Odpowiednio dla CMC - średnio 0,15ΔE*cmc, max. 0,30ΔE*cmc
- » Powtarzalność
- 0,05ΔE*ab na białym (odchylenie standardowe)
- » Wyświetlacz
- 64x128 pikseli, graficzny LCD
- » Temperatura pracy
- 10° - 40°C
- » Waga
- 1,1kg
- » Dodatkowe wyposażanie
- Wzorzec kalibracyjny, instrukcja w języku polskim, zasilacz, walizka