Produkty

Ci62

 

Ci62 dostarcza absolutne i względne wyniki pomiarów następujących funkcji kolorymetrycznych. Te wartości mogą być interpretowane w oparciu o dziewięć standardowych systemów kolorymetrycznych oraz kątów obserwacji 2° lub 10°: CIE XYZ, CIE Yxy, CIE LAB, Hunter LAB, CIE LCH, CMC oraz CIE94. Stopień bieli i zażółcenia podawany jest według normy ASTM E313-98. Indeks metameryzmu oraz DIN 6172 dodatkowo AATCC skala szarości.

Tryb projektu

Różnokolorowe standardy mogą zostać przypisane określonemu projektowi, co pozwoli w przyszłości na łatwe zarządzanie nimi i identyfikacje.

Tryb zgodny/niezgodny

Ci62 przechowuje w pamięci 4000 standardy z przypisaną im tolerancją dla szybkiego porównania z wynikiem zgodny/niezgodny. Czerwona/zielona kontrolka LED i wyświetlacz graficzny LCD wizualnie potwierdzają otrzymany wynik. O wyniku negatywnym informuje nas dodatkowo sygnał dźwiękowy.

Szybkie porównanie

Operator może zmierzyć i porównać ze sobą dwa kolory. Pozwala to otrzymać odczyt jakości koloru w dowolnym czasie, bez konieczności ustalania tolerancji czy zapisu danych.

Sfera pomiarowa

Sfera rozpraszająca w Ci62 jest wykonana z Spectralonu®, jest to trwały, wysoce odbijający materiał, zaprojektowany do stosowania w ciężkich warunkach produkcji. Materiał rozpraszający zapobiega przedwczesnemu zniszczeniu ścian sfery poprzez zapobieganie łuszczenia się, czy odpryskiwania materiału ze ściany.

Współczynnik krycia, siła krycia koloru i sortowanie odcienia

Ci62 potrafi zmierzyć współczynnik krycia oraz trzy opcje siły krycia koloru jak: chromatyczność, pozorny pomiar siły krycia oraz współrzędne trójchromatyczne. Ci62 wykonuje także sortowanie odcienia 555. Są to ważne parametry, warte uwagi w kontroli jakości koloru produktów, w przemyśle tworzyw sztucznych, farb czy materiałów tekstylnych.

Zgodność międzyurządzeniowa

Ci62 wykazuje wysoką zgodność międzyurządzeniową w wielourządzeniowym programie kontroli jakości koloru.

Tekstura i wpływ połysku

Aby wyznaczyć wpływ składnika połysku, Ci62 pozwala na jednoczesny pomiar z uwzględnieniem połysku (z naciskiem na pigmentacje) oraz z wykluczeniem połysku (z naciskiem na wygląd).

Ergonomia przyjazna użytkownikowi

Dodatkowo oprócz oprogramowania pomagającemu operatorowi w pomiarach samo urządzenie jest przyjazne użytkownikowi. Małe, lekkie z paskiem na nadgarstek oraz wygodnymi bocznymi uchwytami. Wyświetlane informacje są duże i czytelne.



Pliki do pobrania

Dane techniczne

  • » Geometria pomiarowa
  • d8° technologia DRS SPIN/SPEX
  • » Źródło światła
  • Lampa wolframowa napełniona gazem
  • » Typy oświetlaczy
  • C, D50, D65, D75, A, F2, F7, F11 i F12
  • » Obserwator
  • 2° i 10°
  • » Detektor
  • Fotodioda krzemowa z podwyższoną czułością w zakresie światła niebieskiego
  • » Zakres spektralny
  • 400 - 700nm
  • » Interwał spektralny
  • 10nm - pomiar, 10nm - wyjście
  • » Pamięć
  • 1024 wzorce z tolerancjami, 2000 próbek
  • » Zgodność międzyurządzeniowa
  • CIE L*a*b* - średnio 0,20ΔE*ab bazując na śred. z 12 płytek BCRA serii II (SPIN); max. 0,40ΔE*ab na jakiejkolwiek płytce (SPIN). Odpowiednio dla CMC - średnio 0,15ΔE*cmc, max. 0,30ΔE*cmc
  • » Powtarzalność
  • 0,05ΔE*ab na białym (odchylenie standardowe)
  • » Wyświetlacz
  • 64x128 pikseli, graficzny LCD
  • » Temperatura pracy
  • 10° - 40°C
  • » Waga
  • 1,1kg
  • » Dodatkowe wyposażanie
  • Wzorzec kalibracyjny, instrukcja w języku polskim, zasilacz, walizka

Kamado Sp. z o.o.       Telefon: (0-87) 428 21 68       email: xrite@kamado.pl

Kamado © 2009 projekt i wykonanie CMC